Методы морфологического анализа

Одним из вариантов планиметри­ческого метода является «клеточный», или «сеточный», метод. Площадь, занимаемую на срезе изучаемой компонентой, опреде­ляют наложением на срез квадратной сетки с известным шагом делений, затем подсчитывают число полных и неполных квад­ратов в пределах контура, занимаемого анализируемой струк­турой. Точность измерения будет зависеть от шага решетки — чем меньше шаг, тем она выше. Анализ можно проводить на макропрепаратах [Автандилов Г. Г., 1960] и непосредственно при микроскопическом исследовании с помощью окулярной вставки, у которой для выбранной степени увеличения заранее определен шаг решетки. На микрофотографии накладывается сетка с известной площадью каждого квадрата. Таким методом можно определить площадь, занимаемую исследуемым компо­нентом на плоском срезе. При необходимости установления среднего значения площади изучаемых структур на срезе про­водят анализ большого количества препаратов (снимков) и ре­зультаты измерений обрабатывают статистически. Несмотря на трудоемкость и большие затраты времени на анализ, а также существование других более приемлемых методов (методы линейного интегрирования и точечного счета), планиметрический метод следует применять, если изучаемые структуры на срезе занимают менее одного процента всей площади гистологическо­го или цитологического препарата. В этом случае планиметрический метод — единственно приемлемый, так как с его по­мощью на сравнительно небольшом материале можно получить достаточно надежные результаты. Применение других методов потребовало бы изготовления значительного количества препа­ратов и подсчета десятков тысяч точек (при использовании ме­тода точечного счета) или длин отрезков (при использовании метода линейного интегрирования).

Разновидностью планиметрического метода является метод Е. П. Полушкина (1924), суть которого состоит в том, что вместо клеток тест-системы используется система параллельных линий на равном и известном расстоянии друг от друга. Изме­рив общую длину всех отрезков, лежащих внутри измеряемой структуры, и умножив ее на расстояние между линиями, получим площадь, которую занимает эта структура на срезе.

Метод наложения эталонов

Применяется для определения площади структур на срезах. На исследуемые сечения объектов на микрофотографиях или на экране электронного микроскопа накладывают эталонные фигуры известной площади и по совпа­дению площадей эталонов с исследуемыми объектами опреде­ляют их площадь. Если анализ проводится под микроскопом, то используют специальную окулярную вставку. Естественно, структура не может в точности совпасть с эталонной фигурой. Однако при достаточно большом наборе эталонных шаблонов можно подобрать соответствующую фигуру, при наложении ко­торой часть площади, оставшаяся вне контура, будет равна свободной площади внутри контура и, следовательно, будет почти равна площади изучаемой структуры.